Belec IN-SPECT臺式光譜儀

Belec IN-SPECT臺式光譜儀是用于(yu)金(jin)屬(shu)分析的新(xin)型緊湊型固定光譜(pu)儀。 臺式(shi)儀器以壓縮的(de)方(fang)式(shi)將復雜的(de)實驗室儀器的(de)大部分功能結合在一(yi)起。

產品(pin)功能

•新型(xing)的5GSO系(xi)統提高整體分析效能（第5代(dai)光(guang)譜儀光(guang)學系(xi)統）

•新型的探測器(qi)，*展(zhan)現在光譜(pu)學的應用

•結構緊湊

•服(fu)務和操作方面(mian)人性化設計

•低檢測下限的精度(du)

•易(yi)于操作的Belec Win 21軟件

•開(kai)放(fang)式火花(hua)臺

•富有吸(xi)引力的(de)設計

•專業人員(yuan)的安裝和指導

Belec IN-SPECT是所(suo)有(you)中小(xiao)型企業具有(you)吸(xi)引(yin)力的合作伙伴。 標準配置(zhi)的惰性氣(qi)體流動的光學光譜室，和對分析要求(qiu)的不斷(duan)優化使得設備(bei)富有(you)吸(xi)引(yin)力。

同時(shi)，Belec IN-SPECT為用(yong)戶(hu)提(ti)供了高性(xing)能和準確性(xing)。連同其它配件一起，設備顯示了一個真正的(de)分析單元，取(qu)代傳(chuan)統(tong)(tong)的(de)笨重(zhong)而龐(pang)大(da)的(de)系統(tong)(tong)。集成(cheng)光譜儀(yi)，包(bao)含(han)新型的5GSO系統，由(you)BELEC工程(cheng)師設計，可以在任(ren)何(he)類型的光譜(pu)線同時應用時也不(bu)會(hui)出現相互(hu)的干擾。

從現(xian)在開始，每日的(de)校正(zheng)程序(xu)都已成(cheng)為歷史，新的(de)MCDC系(xi)統（多信道(dao)漂移校正(zheng)）可以(yi)自動地實(shi)現(xian)。一次漂移校正(zheng)可以(yi)在幾(ji)個星期內保(bao)持良好的(de)結果。

Belec IN-SPECT適用于(yu)實驗室操作。 所需空間(jian)很小(xiao)，使得可(ke)以將儀器放置(zhi)在幾乎任(ren)何可(ke)能的位置(zhi)。

光學

•帕刑-龍(long)格裝置光譜室

•羅(luo)蘭圓直徑300mm

•可(ke)用波長145-410 nm

•光(guang)柵(zha)，3600線/ mm

•色(se)散率0.9 nm / mm（1次(ci)）

•耐沖擊

•恒溫探測器配備(bei)波長入(ru)射窗口（US許可）

•集成噪聲補償

•寬7μ像(xiang)素(su)優化線分離

•一個(ge)基體模(mo)塊*校正，延伸到幾乎無限的額外基體模(mo)塊

•無(wu)限(xian)數量(liang)的(de)元素信道(dao)

•惰性氣體光(guang)譜室帶凈化系統

•可選配置為：真空光譜室代替惰性(xing)氣(qi)體交換光譜室

光源

•火花發生(sheng)器(qi)的(de)最大頻率(lv)400 Hz

•單(dan)極放電

•通過軟件(jian)控制(zhi)預火花(hua)參數和集成數據參數

•通過軟件控制點(dian)火頻率程序

•通(tong)過軟件控制放(fang)電功率程序

•點火電壓20 kV

測量臺(tai)

•為精(jing)確分析的氬氣(qi)流測(ce)量臺

•火花測量臺上帶?10mm分析(xi)口(kou)，可選帶?4mm分析(xi)口(kou)的(de)陶(tao)瓷或金屬墊片

•可(ke)配(pei)合(he)線材(cai)、管材(cai)和小零件的適(shi)配(pei)器使用

•低損鎢(wu)電(dian)極

•氣動試樣(yang)夾具

•氬氣流量待(dai)機時0.1 l / min，分析時2 l / min

•免維護

電子器件(jian)

•10個(ge)探(tan)測器，每個(ge)3648像(xiang)素(su)，寬7μ像(xiang)素(su)

•溫度(du)穩(wen)定，精確到0.1°C

•每個(ge)探測器(qi)都有(you)獨(du)立的(de)AD轉換器(qi)，安裝(zhuang)在多通(tong)(tong)道板上，以高速通(tong)(tong)用USB端(duan)口連(lian)接

•集(ji)成(cheng)(cheng)噪聲抑制 - 集(ji)成(cheng)(cheng)背景補償

•無限數量的測量信道(dao)，可配置多個(ge)基(ji)體

尺寸

•寬30.5英寸（775毫米）

•高14.9英寸(cun)（380毫米）

•深度(du)23.6英(ying)寸（600毫米）附(fu)加6.1英(ying)寸（155毫米）的火花臺(tai)

重量

•分析(xi)單元152.1磅 （69kg）附加顯示器和鍵盤

電源

•230V / 50Hz或110V / 60Hz

•100 W待機時

•600 W分析時(shi)

真空(kong)系(xi)統電源（可選）

•600 W待機時(shi)

•1100W分析時

計算機硬件

•系(xi)統(tong)(tong)集成工業計算機系(xi)統(tong)(tong)

•Intel®Core®Duo T7400（2.16 GHz，4MBL2）

•2 GB DDR2 SD RAM內存

•2.5“硬盤60 GB

•19“彩色顯示(shi)器，其(qi)他尺寸也(ye)可用

•全尺寸(cun)外接鍵盤

•USB 2.0端口(kou)

•以太(tai)網接口

軟件

通(tong)用操作(zuo)系(xi)統，例如(ru)MS Windows 7

•遠程(cheng)服務(wu)系統（RSS）

•每次測量都會顯示分析(xi)值

•可以根據客(ke)戶要求(qiu)設(she)計不同分析程序(xu)

•每(mei)個分析程(cheng)序都有獨立的分析參數

•自動選擇程序（APF）

•分(fen)析計算(suan)：背景修正(zheng)(zheng)，曲線位(wei)置(zhi)修正(zheng)(zheng)，乘和(he)加相互修正(zheng)(zheng)

•以標準(zhun)類型進行自動修正（類型校準(zhun)）

•容易同(tong)時進行多個程序(xu)的(de)重(zhong)校(xiao)正（BGR）

•混料分選通過與參考工件的測量數據(ju)進行比(bi)較

•牌(pai)(pai)號分(fen)析是與預(yu)設的牌(pai)(pai)號范圍進行比較

•類型校(xiao)正和類型測量(liang)

•每(mei)個分析程序在(zai)相對和絕對含量(liang)的公差，可調整

•可選測量(liang)結果的(de)平均和標準(zhun)偏(pian)差

•當數據超(chao)過校正曲線時(shi)，會有報警信號

•輕松(song)的同時重新(xin)校準幾個程(cheng)序(xu)

•通過使用MCDC（多信(xin)道漂移校(xiao)正）延長(chang)重校(xiao)正所(suo)需的周期

•自(zi)動提(ti)示定期(qi)重校正

•自動顯(xian)示牌號或物料(liao)號

•合金(jin)牌號數據庫可(ke)達100.000個(ge)或以上（取決于計算機存儲量(liang)）

•顯示器上文(wen)字的大小可變(bian)，以達到良好的清晰度

•自動(dong)存儲功能